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德國(guó)EPK-MiniTest 1100涂鍍層測(cè)厚儀

更新時(shí)間:2024-06-18

儀器型號(hào):

簡(jiǎn)要描述:

德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn):
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號(hào)均可配所有探頭;

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德國(guó)EPK-MiniTest 1100涂鍍層測(cè)厚儀

德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn):
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號(hào)均可配所有探頭;
可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

MiniTest 1100涂鍍層測(cè)厚儀功能

型號(hào)

 

1100

 

2100

 

3100

 

4100

MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

 

1

 

1

 

10

 

99

每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),并可設(shè)寬容度極限值)

 

-

 

1

 

10

 

99

可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)

 

-

 

1

 

500

 

500

數(shù)據(jù)總量

 

1

 

10000

 

10000

 

10000

MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar

 

-

 

 

 

讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

-

 

-

 

 

組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar

 

-

 

-

 

 

組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

-

 

-

 

 

存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

 

-

 

-

 

-

 

分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值

 

-

 

-

 

 

顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間

 

-

 

 

 

其他功能
透過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)

 

-

 

 

 

在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)

 

 

 

 

利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)

 

 

 

 

補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset)

 

-

 

-

 

 

外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能

 

-

 

 

 

保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置

 

 

 

 

更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值

 

 

 

 

設(shè)置極限值

 

-

 

-

 

 

公英制轉(zhuǎn)換

 

 

 

 

連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別zui大zui小值

 

-

 

-

 

 

連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

 

-

 

-

 

 

浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送

 

 

 

 

組內(nèi)單值延遲顯示

 

-

 

 

 

連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值

 

 

 

 

MiniTest2100涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)探頭圖示
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

德國(guó)EPK公司MiniTest 1100涂層測(cè)厚儀探頭參數(shù)

 

探頭

 

量程

 

低端
分辨率

 

誤差

 

zui小曲率
半徑(凸/凹)

 

zui小測(cè)量
區(qū)域直徑

 

zui小基
體厚度

 

探頭尺寸

 



應(yīng)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

F05

 

0-500μm

 

0.1μm

 

±(1%±0.7μm)

 

1/5mm

 

3mm

 

0.2mm

 

φ15x62mm

 

F1.6

 

0-1600μm

 

0.1μm

 

±(1%±1μm)

 

1.5/10mm

 

5mm

 

0.5mm

 

φ15x62mm

 

F1.6/90

 

0-1600μm

 

0.1μm

 

±(1%±1μm)

 

平面/6mm

 

5mm

 

0.5mm

 

φ8x8x170mm

 

F3

 

0-3000μm

 

0.2μm

 

±(1%±1μm)

 

1.5/10mm

 

5mm

 

0.5mm

 

φ15x62mm

 

F10

 

0-10mm

 

5μm

 

±(1%±10μm)

 

5/16mm

 

20mm

 

1mm

 

φ25x46mm

 

F20

 

0-20mm

 

10μm

 

±(1%±10μm)

 

10/30mm

 

40mm

 

2mm

 

φ40x66mm

 

F50

 

0-50mm

 

10μm

 

±(3%±50μm)

 

50/200mm

 

300mm

 

2mm

 

φ45x70mm

 



 

 

 

 

 

 

FN1.6

 

0-1600μm

 

0.1μm

 

±(1%±1μm)

 

1.5/10mm

 

5mm

 

F0.5mm
N50μm

 

φ15x62mm

 

FN1.6P

 

0-1600μm

 

0.1μm

 

±(1%±1μm)

 

平面

 

30mm

 

F0.5mm
N50μm

 

φ21x89mm

 

FN2

 

0-2000μm

 

0.2μm

 

±(1%±1μm)

 

1.5/10mm

 

5mm

 

F0.5mm
N50μm

 

φ15x62mm

 




 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

N02

 

0-200μm

 

0.1μm

 

±(1%±0.5μm)

 

1/10mm

 

2mm

 

50μm

 

φ16x70mm

 

N.08Cr

 

0-80μm

 

0.1μm

 

±(1%±1μm)

 

2.5mm

 

2mm

 

100μm

 

φ15x62mm

 

N1.6

 

0-1600μm

 

0.1μm

 

±(1%±1μm)

 

1.5/10mm

 

2mm

 

50μm

 

φ15x62mm

 

N1.6/90

 

0-1600μm

 

0.1μm

 

±(1%±1μm)

 

平面/10mm

 

5mm

 

50μm

 

φ13x13x170mm

 

N10

 

0-10mm

 

10μm

 

±(1%±25μm)

 

25/100mm

 

50mm

 

50μm

 

φ60x50mm

 

N20

 

0-20mm

 

10μm

 

±(1%±50μm)

 

25/100mm

 

70mm

 

50μm

 

φ65x75mm

 

N100

 

0-100mm

 

100μm

 

±(1%±0.3mm)

 

100mm/平面

 

200mm

 

50μm

 

φ126x155mm

 

CN02

 

10-200μm

 

0.2μm

 

±(1%±1μm)

 

平面

 

7mm

 

無(wú)限制

 

φ17x80mm

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。


 

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深圳市偉峰儀器儀表有限公司

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